Market Leader ESP Book - Working Across Cultures

Изучение поверхности полупроводника с помощью сканирующего электронного...
РЕФЕРАТ Дипломна робота: 43 сторінок, 12 малюнків, 1 таблиця, 6 джерел. Об`єктом дослідження є поверхня металевих та напівпровідникових матеріалів за допомогою скануючого електронного мікроскопа. Методикою досліджень являється реєстрація вторинних електронів та фотонів. Результати досліджень можуть бути застосовані працівниками, які займаються дослідженнями в області напівпровідникових матеріалів. RESUME he gradua io research “Usi g he Sca i g Elec ro Microscopy for diag os ics of a surface of semico duc ors ” – 2003, s ude Lyashe ko O.A. (D U, physical facul y, gr. FP-98-1, depar me of op oelec ro ics) leader Klime ko V.V. he work is i eres i g for researchs he semico duc or researches. Bibliography pages 43, ables 1, Images 12.Тема: Изучение поверхности полупроводника с помощью сканирующего электронного микроскопаЗміст.Реферат 4 Resume 5 Вступ. 7Розділ І. Літературний огляд 8 1. Одержання і керування потоком електронів 8 2. Електростатичні лінзи 10 3. Магнітні лінзи 14 4. Електронно-оптичні дослідження матеріалів 15 5. Звичайний просвітлюючий електронний мікроскоп 16 1.